기기명 | 기기약어 | 담당자 | 상태 | 예약현황 | 신청하기 | ||
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한글명 | 고성능주사전자현미경 | SEM | 063-270-3692 rfc@jbnu.ac.kr |
정상
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영문명 | Variable Pressure Scanning Electron Microscope | ||||||
셈, 샘, sem, SEM | |||||||
한글명 | 다목적 X-선 회절분석기 | XRD | 063-270-3692 rfc@jbnu.ac.kr |
정상
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영문명 | Multi-Purpose X-ray diffractometer | ||||||
xrd XRD 엑스레이 엑스선회절 x-ray 결정 | |||||||
한글명 | 이온밀링기 | IMS | 063-270-3692 rfc@jbnu.ac.kr |
정상
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영문명 | Ion Milling System | ||||||
이온밀링기 | |||||||
한글명 | 전계방사형주사전자현미경-쇼트키타입 | FE-SEM | 063-270-3692 rfc@jbnu.ac.kr |
정상
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영문명 | Field Emission Scanning Electron Microscpe(FE-SEM)-Schottky type | ||||||
전자현미경, FE-SEM, 쇼트키, 전계방사형주사전자현미경, 셈, 에프이샘, sem, fesem | |||||||
한글명 | 주사전자현미경 | 063-270-3692 rfc@jbnu.ac.kr |
수리
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영문명 | Scanning Electron Microscope(SEM) | ||||||