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정상
영문명 Field Emission Scanning Electron Microscpe(FE-SEM)-Schottky type   이인재 | 063-270-3692
rfc@jbnu.ac.kr
한글명전계방사형주사전자현미경-쇼트키타입
전자현미경, FE-SEM, 쇼트키, 전계방사형주사전자현미경, 셈, 에프이샘, sem, fesem
정상
영문명 ICP-OES(Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometer)   이인재 | 063-270-3692
rfc@jbnu.ac.kr
한글명유도결합플라즈마분광계
ICP, 유도결합플라즈마, ICP-OES
정상
영문명 Ion Milling System   이인재 | 063-270-3692
rfc@jbnu.ac.kr
한글명이온밀링기
이온밀링기
정상
영문명 Multi-Purpose X-ray diffractometer   이인재 | 063-270-3692
rfc@jbnu.ac.kr
한글명다목적 X-선 회절분석기
xrd XRD 엑스레이 엑스선회절 x-ray 결정
수리
영문명 Scanning Electron Microscope(SEM)   이인재 | 063-270-3692
rfc@jbnu.ac.kr
한글명주사전자현미경
정상
영문명 Variable Pressure Scanning Electron Microscope   이인재 | 063-270-3692
rfc@jbnu.ac.kr
한글명고성능주사전자현미경
셈, 샘, sem, SEM

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