월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
---|---|---|---|---|---|---|
09:30 - 17:30 | 09:30 - 17:30 | 09:30 - 17:30 | 09:30 - 17:30 | 09:30 - 16:30 | X | X |
예약전 전화문의해주시기 바랍니다.
전자현미경(SEM) 분석 전 Sample의 미세 영역 관찰을 위해 필요한 전처리 장비로 Ar Ion Beam을 이용하여 Sample의 단면 절단(Cross Section)이나 표면에 조사하여 특정부분을 정밀하게 연마(Flat Milling)할 수 있는 장비
• SEM 관찰 및 분석(ex. EBSD 측정)을 위한 표면 연마 (Flat Mill)
• 다층 코팅 Thin Flim 및 PCB 단면 절단 (Cross Section)
해당 요금은 공과대학 회원 기준으로 교내 150%, 교외 200%로 부과됩니다.
분석항목 | 단가(직접사용) | 단가(분석의뢰) | 단위 | 비고 |
---|---|---|---|---|
평면가공 | 20,000원 |
시간 | ||
단면가공 | 70,000원 |
샘플 |