공대 공동시험소
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Ion Milling System
이온밀링기
  • 호실
    105호
  • 제조사(모델)
    HITACHI (IM4000 )
  • 이메일
    rfc@jbnu.ac.kr
  • 연락처
    063-270-3692
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즐겨찾는기기 추가
신청가능 시간    2024-11-22 까지의 사용 예정건만 예약 가능
09:30 - 17:30 09:30 - 17:30 09:30 - 17:30 09:30 - 17:30 09:30 - 16:30 X X
원리 및 특성

예약전 전화문의해주시기 바랍니다.

 

전자현미경(SEM) 분석 전 Sample의 미세 영역 관찰을 위해 필요한 전처리 장비로 Ar Ion Beam을 이용하여 Sample의 단면 절단(Cross Section)이나 표면에 조사하여 특정부분을 정밀하게 연마(Flat Milling)할 수 있는 장비

규격
적용(응용)분야

• SEM 관찰 및 분석(ex. EBSD 측정)을 위한 표면 연마 (Flat Mill)

• 다층 코팅 Thin Flim 및 PCB 단면 절단 (Cross Section)

사용료

해당 요금은 공과대학 회원 기준으로 교내 150%, 교외 200%로 부과됩니다.
 

분석항목 단가(직접사용) 단가(분석의뢰) 단위 비고
평면가공
20,000원
시간
단면가공
70,000원
샘플
관련자료


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